UREL   FEKT   VUT
    












Seminář - Elektronické testování A/D IC s použitím automatického testovacího zařízení

2011-04-06, ing. Dřínovský


Zveme vás na seminář zaměřený na problematiku testování integrovaných obvodů. Přednášejícím je ing. Luděk Chyba z firmy ON Semiconductor. Seminář se uskuteční 12.4. v 8:00 v místnosti PA-649.